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金屬磁記憶檢測儀
產品簡介
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相關文章| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 化工 |
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金屬磁記憶檢測儀 型號：TC-TSC-2M-8
TC-TSC-2M-8應力集中磁檢測儀是應用金屬磁記憶法來測量、記錄和處理設備與結構的應力形變狀況的診斷數據的系統(tǒng)。
能用于按專門的檢測方法來評估設備的應力變形狀況，并測定應力集中區(qū)。此儀器的工作原理在于測量被檢測對象表面磁場Hp的分布。磁場強度使用A/m (安培/米)為單位，長度計數器換算出長度值，以mm為單位。
金屬磁記憶檢測儀 該系列儀器從方法上確立了磁場Hp分布同殘余應力之間的關系。本儀器連同開發(fā)出來的于不同工業(yè)部門的檢測方法，對在運行中設備的診斷領域提供了嶄新的原理和手段。這里所采用的條件是，找出結構的薄弱部位，其形式是金屬的磁記憶。檢測方法符合俄羅斯聯邦采礦技術監(jiān)督局的規(guī)定。本儀器已被推薦進入俄羅斯聯邦標準
TC-TSC-2M-8型應力集中磁檢測儀是8通道儀器，在儀器性能和產品外觀等方面具有很大的提高，除了具有HA/TSC-1M-4儀表的全部功能外，同時擁有以下更*結構和功能特點：
多達8個測量通道；
使用配備新型雙分量傳感器，多個鐵磁探測式轉換器放置成雙分量，用來同時檢測磁場的法向分量(Нру)和切向分量(Нрх)；
數字電路、16位微處理器、1M內存；
32MB存儲空間，用于寫入10-15天期間檢測結果而無須將信息轉入電腦；
分辨率為320X240點陣的大屏幕液晶顯示；
操作簡化，使用14鍵鍵盤；
軟件直接在儀器上自動處理結果；
探頭可以測量場強值和移動長度值，速度大可達0.5米/秒；
不要求對被檢測對象進行專門的磁化，因為它利用了它們運行中形成的殘余磁性；
不要求對被檢測表面作任何準備；
在檢測過程中能確定事先不知道的金屬的應力集中和缺陷的部位；
儀器能把數據記錄到存儲器，并可把數據轉錄入計算機中；
配套提供分析軟件MM-System，可在計算機上對數據作深入的處理。
技術參數：
| HP 值量程 | ±2000 A/m |
| HP值測量通道 | 2—8通道（根據探頭） |
| 小測量步長（間距） | 1mm |
| 大測量步長（間距） | 128 mm |
| 大掃描速度（步長為1mm時） | 0.2 -0.5 m/s |
| 每個通道磁場測量的基本相對誤差 | <5% |
| 長度測量的相對誤差 | <5% |
| 微處理器 | 16 位 |
| 內存容量 | 1 Mb |
| 閃存容量 | 32 Mb |
| 液晶顯示 | LCD顯示屏，320x240點陣 |
| 計算機通過RS-232口傳輸數據的速度 | 115 kbps |
| 鍵盤 | 14 鍵 |
| 供電電池 | 直流7.2V |
| 功率消耗 | 0.8-3.0 VA |
| 工作溫度范圍 | -15°C— +55°C |
| 相對濕度范圍 | 45% - 85% |
| 幾何尺寸 | 243x120x40 mm |
重量
| 0.6 kg
|
 | 產品名稱：數字式四探針測試儀 產品型號：SZT-4 |
數字式四探針測試儀型號：SZT-4
SZT-4數字式四探針測試儀，是二量程的電阻測量儀器，配以手持式測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程，小可以測量0.0001Ω大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。SZT－4數字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。
本儀器工作環(huán)境條件為：
溫 度：18℃―25℃
相對濕度：60%－80%
工作室內應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。
二，SZT-4數字式四探針測試儀技術參數
1,測量范圍
電 阻 率:0.01-200Ω-cm
方塊電阻:0.01-200Ω-口
電 阻:0.01-200.0
2,數字電壓表
(1)量 程:200mV單一量程
(2)誤 差:讀數 ±0.2%±3字
(3)輸入電阻:>10MΩ
3,恒流源
(1)電流輸出:0~10mA連續(xù)可調
(2)量 程:1mA, 10mA
(3)誤 差:±0.2%±3字,
4,手持式四探針測試頭
(1)探 針 間 距:1mm
(2)探針機械游移率:±1.0%
(3)探 針 材 料:碳化鎢,φ0.
(4)壓力:大 2Kg
5,電源:220V±10%：50Hz
功耗：5W
6，外形尺寸：
7，使用方法：取出儀器平放於桌上，將三芯電源線接入儀器的電源插座中，并接通交流電壓（220V），再將測試探頭的插頭插入相應的插座中，按下電源開關使儀器得電，儀器上的數字電壓表就有讀數顯示，如果面板上的二個功能開關全部處於彈出狀態(tài)，則二個開關旁邊的“調整”指示燈和：“1mA”指示燈將被點亮，此時旋轉電流調節(jié)旋鈕電壓表讀數就會發(fā)生有規(guī)則的變化，這說明儀器已經可以正常工作。
下一步就可以跟據測試的須要對電流進行調整。電流調整應該將電流開關放在10mA的位置上。
8，電流調整：
（1）半導體（硅）材料的電阻率測試：在10mA電流量程上將電流調到6.28mA,相當于在10mA電流情況下測得的結果,乘以探頭修正系數0.628。由於恒流源的調整，1mA和10mA是同步的，在`10mA調準以后1mA量程同樣包含有這個修正系數。
（2）半導體（硅）材料薄層擴散，玻璃或塑料的薄導電鍍復層的方塊電阻 測試:在10mA電流量程上將電流調至4.53mA, 測得結果乘以10,就是方塊電阻。
（3）電阻測試：電阻測試不能使用探頭，必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭“電阻測試線”（選配件）。電流調到10mA,電壓表的顯示值就是電阻值，不用修正。
（4）在做好測試前的準備工作之后，取下探頭保護蓋，將探頭壓在被測工件上，使四根探針和工件保持良好接觸，
使用時的注意事項；
（1）保護蓋取下后一定要保存好，用畢仍要蓋好，以防探針損壞。
（2）儀器操作時，應備戴乾燥手套，操作場地，桌椅均應保持乾燥。
（3）在被測材料外形尺寸允許的情況下，建議使用臺式測試架（選購件），可使測試精度和穩(wěn)定性都會有所提高。
（4）對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應對測試結果進行厚度修正,修正參數見參數表,附錄`1A和附錄1B 。
（5）附錄2，是對片狀工件外形（園形，矩形）和測量位置的修正參數表。
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